探针测试一体化式设计,测试可靠,精度高
全自动上下片系统,支持双cassette测试
wafer支持平边或Notch两种定位方式
支持4,6寸两种产品(需更换CHUCK)
精准芯粒扫描与自定义测试结合,定位准确
专利积分球档位自动识别技术
主动式针压调整技术,针痕控制更可靠
测试波段覆盖紫外(UVC/UVB/UVA)、蓝光、绿光、黄光、红光、白光等(可选)
电流源档位1.5A@200V
ESD包含多种规格,具备业内较长的ESD使用寿命(可选)
支持常规电性参数,光性参数包含WLP/WLD/WLC/HW/PURITY/CIE-x/CIE-y/CCT/RA/R1-R15
支持Mini、Microv LED挡位