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PT-306
PT-306
6英寸半自动探针台
可搭配直流针座测试,支持6个针座安装
高精度CCD视觉定位系统,自动化程度高
可选配高温、高压测试模块,适应更多产品测试要求
可选遮光测试
应用领域
适用于6英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试
主要功能
自动打点
自动晶圆对准功能
自动清针功能
MAP图实时显示、存储产品
测试应用
大电流测试
遮光测试
高压测试
高温测试
坏点重测
特殊应用
无Notch预对准
遮光处理
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适用于5~8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计,可以满足2000根探针以下的单芯或多芯测试,配备全自动上下片系统,具有高精度、高刚性,高稳定性的特点;自动对针提高了对准精度,方便客户多针、多芯测试需要
PT-305
双面半自动探针台
适用于5英寸及以下双向器件自动测试
PT-305
双面半自动探针台
适用于双向分离器件(双向可控硅、TVS等)以及需要正反面双向探针测试的芯片,可满足3、4、5英寸芯片的自动测试