12英寸全自动探针台

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GT-3000

集高精度、高效率、低震动、低噪声于一体，效率有效提升50%，精度提升30%

精密光学模组及先进的图像算法实现自动对准、自动对针
支持Wafer ID读取（正面/背面可选）
参数指标、功能比肩国际一流
继承前代设备的优良性能与简易操作性
OHT、AGV自动化对接
适配市面主流测试系统软硬件连接
适配各类型测试系统Hard Docking/Direct Docking/Cable测试

应用领域

适用于LCD Driver 、SOC、Memory 、CIS、先进封装测试等领域晶圆级测试。

测试应用

射频测试

高压测试

大电流测试

WAT测试

先进封装测试

高低温测试

主要功能

料盒RFID自动识别

自动磨针

针痕自动识别功能

支持坏点重测试功能

支持分类测试功能

Mapping功能，实施显示、存储

抽测功能

支持EAP自动化通信

自动上下卡功能

支持退片寻noctch功能

配备GPIB接口

测试机抱臂Hinge

自动对针

自动晶圆对准

支持Wafer ID自动识别

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