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GT-3000
GT-3000
集高精度、高效率、低震动、低噪声于一体, 效率有效提升50%,精度提升30%
精密光学模组及先进的图像算法实现自动对准、自动对针
支持Wafer ID读取(正面/背面可选)
参数指标、功能比肩国际一流
继承前代设备的优良性能与简易操作性
OHT、AGV自动化对接
适配市面主流测试系统软硬件连接
支持不同品牌型号的测试系统Hard Docking/Direct Docking/Cable测试
应用领域
适用于LCD Driver 、SOC、Memory 、CIS、先进封装测试等领域晶圆级测试。
测试应用
射频测试
高压测试
大电流测试
WAT测试
先进封装测试
高低温测试
主要功能
料盒RFID自动识别
自动磨针
针痕自动识别功能
支持坏点重测试功能
支持分类测试功能
Mapping功能,实施显示、存储
抽测功能
支持EAP自动化通信
自动上下卡功能
支持退片寻noctch功能
配备GPIB接口
测试机抱臂Hinge
自动对针
自动晶圆对准
支持Wafer ID自动识别
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