FT-3000
FT-3000
集高精度、高效率、低震动、低噪声于一体, 效率有效提升50%,精度提升30%
对准位与测试位重合,保证综合精度长期稳定;
兼容wafer及frame铁环传输测试;
高刚性Z工作台;
双机械臂传输自动上下料系统;
支持各类型测试系统Hard Docking/Direct Docking/Cable测试;
精密光学模组及先进的图像算法实现自动对准、自动对针;
支持Wafer ID读取(正面/背面可选);
配置磨针台自动磨针,毛刷清针可选;
具有多Bin分类显示Mapping功能,方便分析圆片参数分布状况
支持8" /12"Wafer预对准以及2-8-1,2-12-1铁环自动对准
支持8"/ 12"Wafer以及2-8-1, 2-12-1铁环传输;
支持12” FOUP/12”OPEN/8”OPEN, 13槽12”Metal Frame Cassette,25槽8"Metal Frame Cassette 多种规格料盒以及对应产品;
支持工厂天车自动化对接;
中文式界面,操作使用直观易理解;
应用领域

适用于LCD  Driver 、SOC、Memory 、CIS、先进封装测试等领域晶圆级测试。

主要功能
抽测功能
支持EAP自动化通信
自动上下卡功能
支持坏点重测功能
支持分类测试
Mapping功能,实施显示、存储
支持退片寻touch功能
配备GPIB接口
测试机抱臂Hinge
自动对针
自动晶圆对准
支持Wafer ID自动识别
自动磨针
料盒REID自动识别
针痕自动识别功能
测试应用
射频测试
高压测试
大电流测试
WAT测试
先进封装测试
高低温测试
咨询/投诉
问题领域
联系人
手机号码
联系电话
邮箱
性别
公司名称
所在地区
联系地址
咨询内容
weixin
18126474932