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产品中心
PT-308T
PT-308T
8英寸高精度探针台
可用于多芯同时探测,提升产能效益
可搭配直流针座测试,最多支持4个针座安装
高精度CCD视觉定位系统,自动化程度高
独特的移动面板,可实现异位打点、全扫描、墨点识别、精度自动校正等功能
应用领域
适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试
主要功能
自动打点
MAP图实时显示、存储产品
自动清针功能
晶圆ID自动读取
自动晶圆对准功能
针痕检测功能
自动清针功能
测试应用
大电流测试
射频测试
遮光测试
高压测试
高温测试
坏点重测
特殊应用
无Notch预对准
遮光处理
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适用于4~8英寸半导体集成电路、分立器件晶圆的全自动探针测试。配备有高可靠性自动上下片系统,高精度CCD视觉定位系统,自动化程度高。更具有薄片传输能力,应用面广,尤其满足大功率分立器件(IGBT、MOSFET)测试
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