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产品中心
PT-903II
PT-903II
8英寸全自动探针台
配备高可靠性的自动上下片系统
可用于多芯同时探测,大大提升产能效益
可搭配直流针座测试,最多支持4个针座安装
高精度CCD视觉定位系统,自动化程度高
应用领域
适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试
主要功能
晶圆ID自动读取
自动打点
自动晶圆对准功能
自动清针功能
MAP图实时显示、存储产品
测试应用
高压测试
高温测试
大电流测试
坏点重测
特殊应用
无Notch预对准
遮光处理
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8英寸全自动探针台
适用于8英寸及以下晶圆测试
PT-9200
8英寸全自动探针台
适用于5~8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计,可以满足2000根探针以下的单芯或多芯测试,配备全自动上下片系统,具有高精度、高刚性,高稳定性的特点;自动对针提高了对准精度,方便客户多针、多芯测试需要
PT-920B
8英寸全自动探针台
适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试
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适用于5~8英寸集成电路晶圆的自动探针测试。整机特别针对集成电路多芯多探针及高定位精度的测试需求进行设计,可以满足1000根探针以下的单芯或多芯测试,配备全自动上下片系统,具有高精度、高刚性,高稳定性的特点。自动对针提高了对准精度,方便客户多针、多芯测试需要
PT-308
8英寸半自动探针台
适用于 4~8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要,并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位,还可增配进行高温、高压测试.
PT-308
8英寸半自动探针台
适用于 4~8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要,并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位,还可增配进行高温、高压测试.
PT-308T
8英寸半自动探针台
适用于8英寸及以下的集成电路、功率器件类晶圆测试
PT-308T
8英寸半自动探针台
适用于 4~8 英寸集成电路与分立器件晶圆的自动测试。本机具备有多样灵活的测试方式及丰富的 MAPPING 处理功能。产品设计满足了多芯、长针卡测试的需要,并可根据测试需求选配视觉系统实现自动扫描、定位,还可增配进行高温、高压测试